Testfassungen und Kontaktgeber für die Endprüfung
Eine hohe Maßhaltigkeit, Verschleißfestigkeit bei wiederholten Prüfzyklen und mechanische Steifigkeit sind entscheidend für die Lebensdauer und die zuverlässige Leistung dieser Präzisionsteile. Einige Geräte müssen auch unter extremen Tri-Temp-Testbedingungen funktionieren, die je nach Endanwendungsumgebung des Geräts von -65°C bis über 175°C reichen. Die in diesen Testanwendungen verwendeten Materialien müssen außerdem ein Minimum an Ausgasung und Abblätterung aufweisen, um eine Kontamination der getesteten Chips zu minimieren. Da sich die Industrie auf die nächste Generation von Chips zubewegt und IC-Designs zu dichteren Arrays in kleineren Gehäusen verlagert, werden diese Leistungsanforderungen weiter steigen.
Drake hat auf die sich ändernden und strengeren Anforderungen an Halbleitertestsockel und -nester reagiert, indem es Halbzeuge aus außergewöhnlich haltbaren, starken und stabilen Hochleistungspolymeren entwickelt hat, die ideal für die Leistungsanforderungen dieser Phase der Halbleiterherstellung geeignet sind:
Torlon 5030 ist ein mit 30 % Glasfasern verstärktes Polyamid-Imid, das eine hohe Dimensionsstabilität bei halb so hoher Wärmeausdehnung wie unverstärkte Typen aufweist. Die Glasfasern bieten eine sehr hohe Steifigkeit bei hohen Temperaturen, ohne die mit Kohlenstofffasern verbundene Leitfähigkeit. Seine Beständigkeit gegen Kriechen unter Belastung bei über 150°C übertrifft die aller Ultra-Hochleistungspolymere, die in Halbleiterprüfanwendungen eingesetzt werden. Mit einer Druckfestigkeit von 260 MPa und der inhärenten Verschleißfestigkeit von PAI widersteht Torlon 5030 der Druckverformung und bietet eine lange Lebensdauer und einen zuverlässigen Einsatz in Fertigteilen. Es ermöglicht auch die Hochgeschwindigkeitsprüfung von ICs unter schwierigsten Testbedingungen von kryogenen Temperaturen bis zu 250°C/482°F.
Torlon 4203L (auch als 4203 bezeichnet), eine unverstärkte pigmentierte Sorte, ermöglicht präzise Loch-zu-Loch-Abstände und eine lange Lebensdauer unter kryogenen Testbedingungen in Chip-Nestern. Seine Festigkeit und Zähigkeit übertrifft die von PEEK und Polyimiden unter kryogenen Bedingungen bis zu 250°C/482°F.
Drake 4200 PAI, eine unverstärkte, nicht pigmentierte Type, ermöglicht ebenfalls präzise Loch-zu-Loch-Abstände und eine lange Lebensdauer unter kryogenen Testbedingungen in Chip-Nestern. Im Gegensatz zu Torlon 4203L enthält die SorteType 4200 jedoch kein TiO2-Pigment und wird von manchen Kunden in der Halbleiterindustrie bevorzugt, um Spuren von Metallverunreinigungen durch Titan und Aluminium in der pigmentierten Sorte zu vermeiden. Die Festigkeit und Zähigkeit von Drake 4200 PAI übertrifft auch die von PEEK und Polyimiden, und zwar ab kryogenen Bedingungen bis zu 250°C/482°F.
