Teststeckdosen und Schütze für den Endtest

Eine hohe Maßhaltigkeit, Verschleißfestigkeit bei wiederholten Testzyklen und mechanische Steifigkeit sind entscheidend für die Lebensdauer und zuverlässige Leistung dieser Präzisionsteile. Einige Geräte müssen auch unter extremen Tri-Temp-Testbedingungen arbeiten, die von -65°C bis über 175°C reichen, je nach der Endanwendungsumgebung des Geräts. Die in diesen Testanwendungen verwendeten Materialien müssen außerdem ein Minimum an Ausgasung und Abblätterung aufweisen, um jegliche Kontamination der getesteten Chips zu minimieren. Da sich die Industrie auf die nächste Generation von Chips zubewegt und die IC-Designs zu dichteren Arrays in kleineren Gehäusen übergehen, werden diese Leistungsanforderungen nur noch steigen.

Drake hat auf die sich ändernden und strengeren Anforderungen an Halbleitertestsockel und -nester reagiert, indem es Formen aus außergewöhnlich haltbaren, starken und stabilen Ultra-Hochleistungspolymeren entwickelt hat, die sich ideal für die Leistungsanforderungen dieser Phase der Halbleiterherstellung eignen:

Torlon 5030 ist ein mit 30% Glasfasern verstärktes Polyamid-Imid, das sich durch eine hohe Dimensionsstabilität und eine halb so hohe Wärmeausdehnung wie unverstärkte Typen auszeichnet. Die Glasfasern sorgen für eine sehr hohe Steifigkeit bei hohen Temperaturen, ohne die mit Kohlefasern verbundene Leitfähigkeit. Seine Widerstandsfähigkeit gegen Kriechen unter Belastung bei über 150°C/ 302°F übertrifft die aller Ultra-Hochleistungspolymere, die in Halbleiterprüfanwendungen eingesetzt werden. Mit einer Druckfestigkeit von 38KSI/260 MPa und der inhärenten Verschleißfestigkeit von PAI widersteht Torlon 5030 der Druckverformung und bietet eine lange Lebensdauer und einen zuverlässigen Einsatz in Fertigteilen. Es ermöglicht auch Hochgeschwindigkeitstests von ICs unter den härtesten Testbedingungen von kryogenen Temperaturen bis 250°C/ 482°F.

Torlon 4203L (auch als 4203 bezeichnet), eine unverstärkte pigmentierte Sorte, ermöglicht präzise Loch-zu-Loch-Abstände und eine lange Lebensdauer unter kryogenen Testbedingungen in Chip-Nestern. Seine Festigkeit und Zähigkeit übertreffen die von PEEK und Polyimiden unter kryogenen Bedingungen bis zu 250°C/ 482°F.

Drake 4200 PAI, eine unverstärkte, nicht pigmentierte Sorte, ermöglicht ebenfalls präzise Loch-zu-Loch-Abstände und eine lange Lebensdauer unter kryogenen Testbedingungen in Span-Nestern. Im Gegensatz zu Torlon 4203L enthält die Sorte 4200 jedoch kein TiO2-Pigment und wird von einigen in der Halbleiterindustrie bevorzugt, um Spuren von Metallverunreinigungen durch Titan und Aluminium in der pigmentierten Sorte zu vermeiden. Die Festigkeit und Zähigkeit von Drake 4200 PAI übertrifft auch die von PEEK und Polyimiden, und zwar ab kryogenen Bedingungen bis zu 250°C/ 482°F.

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